晶片外观瑕疵视觉检测设备详细介绍
磁芯在制程加工步骤中难免会产生缺陷瑕疵，如: 裂纹、崩缺、结晶、脏污不良等等。单靠人力检测的质量控管是无法快速有效率跟上生产速度，更无法精准排除肉眼难判细微瑕疵。倍利精密的磁芯外观缺陷瑕疵视觉AOI（磁芯光学检测筛选机）是取代人力、精准快速、省钱省时间、值得投资的检测设备。
晶片外观瑕疵视觉检测设备特性：
1. 消除人眼检测中因疲劳而产生的错捡、漏捡可设置参数，检测规格统一。
2.快速准确识别磁芯表面各种微小缺陷如崩缺、擦伤、污点、花面、划痕等。同时能够做到六面识别、分类等功能以及对缺银、弱划痕、弱斑点等检测。
3. 采用德国的超高分辨率相机，配合自主研发的高精确度算法，可实现每分钟100-1200颗的识别速度，精度达0.01mm,可远程监控，支持产品外型和结构的小范围变动，防止误检。
晶片外观瑕疵视觉检测设备磁芯裂纹检验能力 Crack Testing capability
机构选择：
多种上下料机构供您选择！
效益分析：
磁芯外观缺陷瑕疵视觉AOI检测数量是人工目检的8.42倍
设备还能替代尺寸检测人工，暗裂 轻微裂等目检不了的各种缺陷瑕疵。
综上所述：
磁芯外观缺陷瑕疵视觉AOI能替代目检人数（EP）：6-8人
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http://www.beilichem.cn/Products-31021022.html
谢先生
